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名称:    测试能力 
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介绍 :
四端子测试
FOUR-WIRE KELVIN TEST
 
普通2 Wires 测 试:

•    短路(Short)- 不应导通而导通 
     以绝缘阻抗值来代表一般测试机可以测到 10 M Ω ,50M Ω; 最佳可到 100 M Ω或更高.
•    断路(Open)- 应导通而未导通 
     一般测试机以 1 Ω为标准, 但对数字高频电路而言, 明显不足应付!
•    无法侦测出 PCB 
    线路微断 (Micro open)
    线细 (过蚀或凹陷)
    微小孔径的电镀, 银胶灌孔不良
    Bump 附着不良…


4 Wires Kelvin 測 試: 
     

   
1、有 4wk 功能的測試機- 
     2w 測試先確認同網路有沒有斷路, 若 ok~
     4w - 對同一網路中的 4w 配對測試阻值!

2、4wK 測試目的: 雖然導通但阻值要達到原電路設計之要求, 不可過高或過低!
3、可以測出 PCB 同一網路該配對中
     阻值從  0.1 mΩ (毫欧)~ 10 Ω
     測量精度視所用的量測儀表而定- 
     0.1 mΩ(目前大部分是0.3mΩ)或更低 







4WK低阻的测试目的:

可通过数学计算每一小孔的电阻值 
例如:孔径0.3mm
电镀铜厚 1 mil
板厚1.6 mm
四线测量通孔两端理论值应为 1.28 mΏ (毫欧)

当测量值大于理论值时,可假设孔内铜壁异常!


测试精度:
 

测试范围

分辨率

实际测试范围

测试针型

0-1 Ω

0.001 mΩ

0.05-0.15 mΩ

500 mA (max.)

Four-wire probe

 
 
四线测试针结构图                                                 四线低阻测试过程波形图
 
 
最具经济效益的四线低阻测试针(刀型) ,所有设计包含著严谨和高端的工程动力学,测试针Z轴静态行程0.5mm,所產生的压力为15.5克。
 
 
通过静态压力调试保证无针痕
 
 
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